離子遷移試驗裝置CAF測試是評價電子產品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法，將樣品置于高溫高濕度的環境中，并在相鄰的兩個絕緣網絡之間施加一定的直流電壓(偏置電壓)，在長時間的測試條件下，檢測兩個網絡之間是否有絕緣失效。
離子遷移試驗裝置CAF測試
實踐證明，將PCB放置于高溫高濕的環境試驗箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時間，將PCB從環境試驗箱中取出，進行絕緣電阻測試，這種間斷式的測試方法，會漏過很多實際發生的離子遷移。
一方面因為將PCB從環境試驗箱中取出，PCB會變得干燥，從而導致絕緣電阻的上升，另一方面，當PCB在高溫高濕的環境試驗箱中承受偏置電壓時，離子遷移可能隨時發生。
有效的PCB離子遷移測試，需要將PCB放置于高溫高濕的環境試驗箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環境試驗箱外的有關測試設備上，以在線路板上施加促進離子遷移發生的偏置電壓和進行絕緣電阻測試，同時能實時檢測PCB上的泄漏電流。
基于測試需求的不斷提高，對測試精度與可靠性、穩定性方面提出了更加苛刻的要求。特別是在CAF測試中，失效點非常難找，而在測試數據上，可能只有一個或兩個點的數據，數據量不足以支撐失效分析驗證。因此可能會對失效原因分析及不便利，試驗過程也就反反復復，增加了工作量，確也不能提高分析結果的可靠性。
系統主要應用：
1、離子遷移測試評估;
2、絕緣電阻性能劣化測試評估;
3、印制電路板、焊錫、焊劑、封裝樹膠等;
4、GBA、DSP等微間距圖形IC封裝;
5、電容器、連接器及其它電子器件及材料;
6、絕緣材料吸濕特性測試評估。
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